1、蒸鍍工藝方式的選擇
熱電(dian)(dian)阻(zu)蒸(zheng)鍍(du)與電(dian)(dian)子(zi)束蒸(zheng)鍍(du)是(shi)常見的(de)蒸(zheng)發鍍(du)膜(mo)方(fang)式,其中熱電(dian)(dian)阻(zu)蒸(zheng)鍍(du)的(de)原(yuan)(yuan)理是(shi)通過電(dian)(dian)流加熱蒸(zheng)發蒸(zheng)發舟上(shang)的(de)原(yuan)(yuan)料,而電(dian)(dian)子(zi)束蒸(zheng)鍍(du)的(de)原(yuan)(yuan)理是(shi)通過電(dian)(dian)子(zi)束加熱蒸(zheng)發水冷(leng)坩堝(guo)上(shang)的(de)原(yuan)(yuan)料。
熱電阻蒸(zheng)鍍的優點在于設備簡單(dan)、價(jia)格低、可靠性(xing)較(jiao)高(gao),對原料預熱充分,不容易導(dao)致化合物原料分解,其缺點在于能(neng)達到的溫度不高(gao),加熱器使(shi)用壽命不長。
電(dian)子(zi)束(shu)蒸鍍的(de)優點在于能達到(dao)的(de)溫度更高,蒸發速度快,但缺(que)點是(shi)難以有效控制電(dian)流,容易導致低(di)熔點材料(liao)(liao)快速蒸發,且電(dian)子(zi)束(shu)能量多(duo)被水冷系統帶走,熱效率低(di),電(dian)子(zi)束(shu)轟(hong)擊(ji)還容易造成化(hua)合(he)物(wu)原料(liao)(liao)的(de)分解,坩堝存在污染原料(liao)(liao)的(de)可能性,另(ling)外會(hui)產生對人體(ti)有害的(de)X射線(xian)。
因此在具體(ti)的(de)(de)(de)真空鍍(du)(du)膜(mo)生產(chan)工(gong)作(zuo)中,我們(men)可(ke)以根據以上分(fen)析來選擇適宜(yi)的(de)(de)(de)蒸(zheng)發鍍(du)(du)設備(bei)和工(gong)藝方式,例如(ru)MgF2的(de)(de)(de)熔(rong)點(dian)(dian)只有1261℃,考慮到熔(rong)點(dian)(dian)低如(ru)選用電(dian)子束蒸(zheng)鍍(du)(du)很難控制預蒸(zheng)鍍(du)(du)時間和電(dian)流(liu)(liu),容易蒸(zheng)鍍(du)(du)不均勻且(qie)產(chan)生殘留原料(liao),原料(liao)也易受坩堝的(de)(de)(de)污(wu)染。因而更適合(he)使用熱電(dian)阻蒸(zheng)鍍(du)(du)的(de)(de)(de)方式,可(ke)以調(diao)節電(dian)流(liu)(liu)來充分(fen)預蒸(zheng)鍍(du)(du),先(xian)消除原料(liao)中的(de)(de)(de)雜質,避(bi)免直接蒸(zheng)鍍(du)(du)原料(liao)受熱不均導致的(de)(de)(de)噴濺,進而能夠保證蒸(zheng)鍍(du)(du)的(de)(de)(de)穩定性(xing)(xing)和均勻性(xing)(xing)。
2、蒸鍍時間與溫(wen)度(du)的控制
蒸(zheng)發(fa)鍍的(de)實(shi)際工作經驗(yan)告(gao)訴我們(men),原料充足情況(kuang)下(xia)鍍膜厚(hou)度(du)與蒸(zheng)鍍時間呈線性關系(xi),這表(biao)明高真(zhen)空情況(kuang)下(xia)蒸(zheng)鍍速(su)率比較均勻。而基(ji)片的(de)溫度(du),通常對(dui)鍍膜厚(hou)度(du)影響不大,其原因在(zai)于高真(zhen)空環境下(xia)分子(zi)間碰撞很小,蒸(zheng)發(fa)分子(zi)遇基(ji)片表(biao)面迅速(su)凝(ning)結。因此如MgF2原料的(de)蒸(zheng)鍍基(ji)片溫度(du)通常保持60℃即可。
3、原料狀態的影響
不同的原料狀態可能會對蒸鍍過程造成(cheng)較大的影響。實驗研究成(cheng)果表明(ming):
在蒸鍍條件一(yi)致的(de)(de)前提(ti)下,粉末狀的(de)(de)原(yuan)料(liao)狀態結(jie)構松散,原(yuan)料(liao)內(nei)的(de)(de)水(shui)與(yu)空(kong)氣較(jiao)(jiao)多,實際蒸鍍前應充分溶解(jie)原(yuan)料(liao),原(yuan)料(liao)質量(liang)損失相(xiang)對較(jiao)(jiao)大,光照度較(jiao)(jiao)差;多晶(jing)顆(ke)粒(li)的(de)(de)原(yuan)料(liao)狀態由于生產過程已經除氣脫(tuo)水(shui),結(jie)構均勻致密,實際蒸鍍前原(yuan)料(liao)質量(liang)損失相(xiang)對較(jiao)(jiao)小,光照度較(jiao)(jiao)好。
實(shi)際蒸鍍中(zhong)我們發現,單(dan)晶原(yuan)(yuan)料蒸鍍的薄(bo)膜組(zu)成形式為大分子團,冷卻(que)后形成大顆粒柱狀結構,薄(bo)膜結構疏松,耐(nai)磨性(xing)差,而多晶原(yuan)(yuan)料薄(bo)膜為小分子沉積,更適宜于用作(zuo)蒸鍍原(yuan)(yuan)料。
4、蒸發源(yuan)與基片間(jian)距的影響
蒸(zheng)(zheng)發源(yuan)與基片(pian)間(jian)距(ju)會對(dui)薄膜均勻(yun)性等造成一定影響,根據實際(ji)鍍膜經(jing)驗,蒸(zheng)(zheng)發源(yuan)與基片(pian)間(jian)距(ju)較小的情況下(xia),薄膜厚(hou)度(du)相對(dui)更(geng)大(da),均勻(yun)性也相對(dui)更(geng)好。因此在實際(ji)鍍膜生產中,我們需要考慮如何合理調整蒸(zheng)(zheng)發源(yuan)與基片(pian)的間(jian)距(ju),確保各區域的基片(pian)與蒸(zheng)(zheng)發源(yuan)間(jian)距(ju)最佳(jia)。
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